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BettersizeC400光学法颗粒计数器

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BettersizeC400光学法颗粒计数器

发布日期:2019-01-11 00:00 来源:http://www.ddbtyq.com 点击:

BettersizeC400光学法颗粒计数器

突出特点:

  • 采用平顶光技术,使覆盖样品池的光强一致,提高了仪器准确性。

  • 高速信号采集、模拟信号转换还原技术属百特自创,不受通道数限制,可任意分级。

  • 软件功能强大,输出报告、多种标准格式。

性能指标:

  • 测试范围:0.5-400μm

  • 重复性误差:1000 粒/ml (5% )

  • 准确性误差:±3% ( 典型值)

  • 测定时间:10-1000 秒/ 次

  • 取样速度:5~100ml/min

  • 双光路结合:采用光阻法与角散射法结合来对颗粒进行联合分析测试。

  • 输出:颗粒总数,颗粒粒度分布,可输出NAS1638 及ISO4406 等不同标准报告。


相关标签:图像颗粒分析仪

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